企業を知る
会社概要
日本電子の企業情報。電気機器に分類される上場企業です。
基本情報
- 企業名
- 日本電子
- 法人番号
- 未取得
- 業種
- 電気機器
- 上場区分
- 上場企業
- 証券コード
- 6951.T
- 所在地
- 未取得
- 設立年
- 未公表・未取得
- 従業員数
- 未公表・未取得
- 公式サイト
- 企業公式サイトを見る ↗
公開財務データ
取得時点:2026/5/28。リアルタイムの市場データではありません。売上高の対象期間は出典をご確認ください。
時価総額3399.3億円
売上高1793.5億円
株価(取得時点)6980円
企業の採用動向
採用・求人情報
44掲載を確認した求人
—今回新たに検知
—今回の掲載終了検知
最終取得:2026/10/24 · 原則毎日確認。初回取得は比較の基準です。求人件数は採用人数を表すものではありません。
公式採用ページを見る ↗半導体製造装置のフィールドサービスエンジニア東京都 昭島市 武蔵野3丁目1 · フルタイム初回検知 2026/10/24電子ビーム描画装置(Multi Beam Mask Writer) 営業職東京都 昭島市 武蔵野3丁目1 · フルタイム初回検知 2026/10/24理科学計測機器(透過電子顕微鏡・質量分析計)の生産管理東京都 昭島市 武蔵野3丁目1 · フルタイム初回検知 2026/10/24理科学機器の電気系生産技術エンジニア東京都 昭島市 武蔵野3丁目1 · フルタイム初回検知 2026/10/24NMRプローブ(極低温プローブ)の開発東京都 昭島市 武蔵野3丁目1 · フルタイム初回検知 2026/10/24核磁気共鳴装置(NMR)の電気設計者東京都 昭島市 武蔵野3丁目1 · フルタイム初回検知 2026/10/24【第二新卒歓迎】透過電子顕微鏡関連のソフトウェア開発東京都 昭島市 武蔵野3丁目1 · フルタイム初回検知 2026/10/24理科学計測機器を設置する空間の設計・施工管理職【東証プライム市場上場/年間休日129日】東京都 昭島市 中神町1156 日本電子株式会社 6号館 · フルタイム初回検知 2026/10/24
残り36件の求人を見る
理科学計測機器(電子光学機器/分析機器・計測機器)フィールドサービスエンジニア ↗初回検知 2026/10/24【理工系学科卒(物理学、電気・電子系学科)の方歓迎】X線分析装置(EDS)の検出器開発 ↗初回検知 2026/10/24理科学計測機器に用いるアフターパーツ関連の受発注・3D CADを使用した図面作成業業務及び調達業務 ↗初回検知 2026/10/24半導体メーカー及び周辺市場への分析解析装置の提案営業(業界未経験歓迎) ↗初回検知 2026/10/24理科学機器の制御系生産技術エンジニア ↗初回検知 2026/10/24質量分析装置(MS)の電気設計エンジニア ↗初回検知 2026/10/24質量分析計のシステム設計・開発 ↗初回検知 2026/10/24ライフサイエンス向け 透過電子顕微鏡(CRYO-TEM)機械設計エンジニア ↗初回検知 2026/10/24電子ビームマスク描画装置の技術開発 ↗初回検知 2026/10/24半導体業界向けマルチ電子ビームマスク描画装置の技術開発(ステージ・真空・搬送の仕様検討/性能評価) ↗初回検知 2026/10/24理科学計測機器(電子顕微鏡等)の工場管理業務(計数管理、原価計算、予算管理等) ↗初回検知 2026/10/24【第二新卒歓迎】半導体製造装置のフィールドサービスエンジニア ↗初回検知 2026/10/24理科学計測機器に用いるアフターパーツ関連の納期進捗業務 ↗初回検知 2026/10/24理科学計測機器、半導体関連機器部品の機械加工技術者 ↗初回検知 2026/10/24理科学計測機器向けIoTサービスの企画推進 ↗初回検知 2026/10/24品質保証担当 ↗初回検知 2026/10/24半導体向け電子顕微鏡(TEM/SEM)のテクニカルサポート ↗初回検知 2026/10/24HRIS(人事部におけるシステムおよびDX推進担当者) ↗初回検知 2026/10/24海外法人の管理マネージャー(インド駐在) ↗初回検知 2026/10/24【第二新卒歓迎】半導体製造装置(電子ビーム描画装置) 営業職 ↗初回検知 2026/10/24半導体業界向け集束イオンビーム加工観察装置(FIB)フィールドサービスエンジニア ↗初回検知 2026/10/24半導体業界向け透過型電子顕微鏡フィールドサービスエンジニア ↗初回検知 2026/10/24質量分析装置(MS)のテクニカルサポート ↗初回検知 2026/10/24ライフサイエンス向け透過型電子顕微鏡(TEM)のテクニカルサポート ↗初回検知 2026/10/24半導体業界向け電子顕微鏡(SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)のリペアエンジニア ↗初回検知 2026/10/24理科学計測機器の設置に伴う環境対策ソリューション営業・販促【東証一部上場/年間休日129日】 ↗初回検知 2026/10/24理科学計測機器の設置環境対策(磁場)担当【東証一部上場/年間休日129日】 ↗初回検知 2026/10/24社内ネットワーク/サーバ及びセキュリティ管理者(課長職) ↗初回検知 2026/10/24理科学機器サービス事業部の総合事務・事業管理担当 ↗初回検知 2026/10/24半導体業界・ライフサイエンス業界向けの元素分析装置の技術開発 ↗初回検知 2026/10/24電子ビーム金属3Dプリンターのシステム設計 ↗初回検知 2026/10/24【第二新卒歓迎】電子ビーム金属3Dプリンターのシステム設計 ↗初回検知 2026/10/24理科学機器の生産ラインにおけるDX推進 ↗初回検知 2026/10/24社内IT運用管理業務 ↗初回検知 2026/10/24表面分析装置(オージェ電子分光装置/光電子分光装置)の製品開発/技術開発 ↗初回検知 2026/10/24海外人事担当 ↗初回検知 2026/10/24職種名は掲載元の原文です。応募・募集条件の確認は公式採用ページで行ってください。
採用掲載の推移
| 期間 | 確認日数 | 新規検知 | 掲載終了 |
|---|---|---|---|
| 直近30日 | 1日 | — | — |
| 直近90日 | 1日 | — | — |
完全に取得できた比較可能な確認日のみ集計しています。未確認日は0件として扱いません。観測開始:2026/10/24。期間全体の増減を保証するものではありません。
掲載終了は同じ取得範囲の一覧で異なる2日の確認で続けて見つからない場合に判定します。取得失敗や部分的な一覧から終了とは判定しません。
出典と確認日
出典によって基準日が異なります。変更や未掲載の項目は公式情報をご確認ください。
ロゴ出典:企業サイト・企業プロフィール ↗ · 確認日 2026/10/24
- YahooFinance ↗確認・基準日:2026/5/28
- 日本取引所グループ ↗確認・基準日:2026/9/30
